電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

Avio™ 200 系統(tǒng)能處理難度最高的、未經(jīng)稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來全新的性能及靈活性。

而且，特別的硬件特性與業(yè)界最直觀易用的軟件相結(jié)合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。

作為市場上最小巧的 ICP，Avio 200 可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數(shù)據(jù)和較低的擁有成本：

• 所有 ICP 中較低的氬氣消耗

• 最快的 ICP 啟動（從關(guān)機狀態(tài)啟動，光譜儀在短短幾分鐘內(nèi)即可準(zhǔn)備就緒）

• 對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率

• 具有雙向觀測技術(shù)的最寬線性范圍

性能可靠、功能強大、經(jīng)濟(jì)實惠、Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。

較低的運行成本

借助獲得 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術(shù)，Avio 僅需消耗其他系統(tǒng)一半的氬氣量，即可生成強健、耐基體的等離子體，同時賦予您：

• 所有 ICP 中較低的操作成本

• 無需再進(jìn)行與傳統(tǒng)螺旋負(fù)載線圈有關(guān)的冷卻和維護(hù)，提供出色的運行時間和生產(chǎn)力

另外，為了提高效率，可令您從關(guān)機狀態(tài)啟動，在短短幾分鐘內(nèi)即可進(jìn)行分析，因而您大可在儀器不使用時隨意關(guān)掉。

強大的雙向觀測功能

與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統(tǒng)不同，Avio 200 系統(tǒng)獲得雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于 500 納米或低

于 200 納米的元素也可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統(tǒng)特別的雙向觀測設(shè)計也提供了可擴展的線性動態(tài)范圍，確保實現(xiàn)：

• 樣品制備和稀釋最小化

• 高、低濃度可以在同一運行中進(jìn)行測量

• 更好的質(zhì)量控制和更準(zhǔn)確的結(jié)果

• 減少重復(fù)運行

集成等離子體觀測相機

可簡化您的開發(fā)方法，同時借助 Avio 200 系統(tǒng)的 PlasmaCam™技術(shù)，盡享遠(yuǎn)程監(jiān)控等離子體的便利。

可幫助您：

• 實時觀測等離子體

• 執(zhí)行遠(yuǎn)程診斷

• 查看進(jìn)樣部件

革新性 PlasmaShear 系統(tǒng)，可實現(xiàn)無氬干擾消除

為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經(jīng)濟(jì)。

其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達(dá) 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統(tǒng)特別的 PlasmaShear™ 技術(shù)只需空氣即可。無需高維護(hù)、高提取系統(tǒng)或錐體。

CCD 檢測器，可實現(xiàn)準(zhǔn)確度和精密度

借助全波長功能，Avio 200 系統(tǒng)的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。

Avio 系統(tǒng)的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現(xiàn)出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執(zhí)行背景校正測量，進(jìn)一步提高準(zhǔn)確度和靈敏度。

帶有快速轉(zhuǎn)換炬管底座的垂直等離子體，可實現(xiàn)基體靈活性

即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統(tǒng)的垂直炬管無需工具也能進(jìn)行簡便快捷的調(diào)節(jié)，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護(hù)。炬管底座的設(shè)計與眾不同，具有以下特點：

• 一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護(hù)和破損的可能性

• 自動自對準(zhǔn)，即使在拆卸后也能提供一致的深度設(shè)置

• 兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀